高压加速老化试验箱内外箱均采用304不锈钢板，圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业容器标准，可防止试验中结露滴水设计。圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。Jing密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。自动门禁，圆型门自动温度与压力检知An全门禁锁定控制，门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
试验箱结构: 
1.圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.  
2.精密设计,气密性良好,耗水量少,每次手动加水可连续运转1H;自动加水可连续运转999H;  
3.自动门禁,圆型门自动温度与压力安全检知、门禁自动锁定控制系统,采用安全门把设计,内箱有大于正常压力时测试门会被反压保护而打不开.保护操作人员安全。  
4.型packing,内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命.  
5.实验开始前之真空动作可将原来内箱之空气抽出，并吸入过滤器,过滤之新空气packing  ＜1micom.以确保箱内之纯净度.  
6.保修期：机器全系统保固壹年(天灾或人为因素造成损坏不在此限),终身维护.  
7.交货期限:签订合同定金确定后3（现货）个工作日.需方工厂交货,我司提供免费包装、运输人员培训、安装、调试等费用.

试验箱执行与满足标准：
1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件；
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验；
3.MIL-STD810D方法502.2；
4.GJB150.9-8温湿试验；
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验；

试验箱控制系统：
1.微电脑饱和蒸气温度+时间LED显示器控制器,压力+指针式显示表.
3.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.
4.控制方式:微电脑控制.  
5.控制精度:(+/-)0.5℃.  
6.解析精度:0.1℃.  
7.压力精度:(+/-)0.15KG.  
8.循环方式：水蒸气自然对流循环方式  
9.温度感应器：（RTD）PT-100Ω(铂金电阻)  
10.加温电热器：绝缘耐压型温度电热器

试验箱性能：
1.温度范围:100℃~135℃可设定.
2.湿度范围:RH.(饱和蒸气湿度) 
3.压力范围:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue对压力;(安全压力容量3Kg/cm2/G=1个环大气压+2Kg/cm2)
4.时间范围:0~1000H
5.温度分布:(+/-)2.0℃%（100℃）
6.升温时间:RT~121℃约35分钟内
7.加压时间:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2约35分钟内
高压加速老化试验箱详细说明：
    随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT（HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC（国际电工会）所标准化。
m.asli888.b2b168.com