又称为高温蒸煮仪，适用于国防、、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药等行业相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。
试验箱性能：
1.温度范围:100℃~135℃可设定.
2.湿度范围:RH.(饱和蒸气湿度) 
3.压力范围:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue对压力;(安全压力容量3Kg/cm2/G=1个环大气压+2Kg/cm2)
4.时间范围:0~1000H
5.温度分布:(+/-)2.0℃%（100℃）
6.升温时间:RT~121℃约35分钟内
7.加压时间:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2约35分钟内

试验箱控制系统：
1.微电脑饱和蒸气温度+时间LED显示器控制器,压力+指针式显示表.
3.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.
4.控制方式:微电脑控制.  
5.控制精度:(+/-)0.5℃.  
6.解析精度:0.1℃.  
7.压力精度:(+/-)0.15KG.  
8.循环方式：水蒸气自然对流循环方式  
9.温度感应器：（RTD）PT-100Ω(铂金电阻)  
10.加温电热器：绝缘耐压型温度电热器

试验箱产品特色：
1、具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动。
2、试验过程自动运转至完成结束，使用简便。
3、温度控制：LED数字型温度控制器可作Jing确试验温度之设定、控制及显示。
4、定时器：LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。
5、Jing准的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。
6、运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到好的蒸气品质。
7、一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
8、内经抛光处理美观不沾污。

试验箱使用条件：
温度：5℃～+28℃（内平均温度≤28℃）
相对湿度：≤85%RH
气压：86kPa～106kPa
供电条件 三相四线+保护地线，电压范围：AC（380±38）V
频率允许波动范围：（50±0.5）Hz
保护地线接地电阻小于4Ω
高压加速老化试验箱详细说明：
    随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT（HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC（国际电工会）所标准化。
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