高压加速老化试验箱内外箱均采用304不锈钢板,圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业容器标准,可防止试验中结露滴水设计。圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品。Jing密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。自动门禁,圆型门自动温度与压力检知An全门禁锁定控制,门把设计,箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
试验箱执行与满足标准:
1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件;
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验;
3.MIL-STD810D方法502.2;
4.GJB150.9-8温湿试验;
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验;
![HAST非饱和老化试验箱](http://l.b2b168.com/2023/04/26/10/202304261036379654114.jpg)
试验箱特点:
1、内外箱均采用304不锈钢板,圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计。
2、圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品。
3、设计可靠,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。
4、自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,安全门把设计,箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
5、型packing,箱内压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。
6、实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。
7、临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
![HAST非饱和老化试验箱](http://l.b2b168.com/2023/04/26/10/202304261035062541584.jpg)
试验箱产品特色:
1、具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动。
2、试验过程自动运转至完成结束,使用简便。
3、温度控制:LED数字型温度控制器可作Jing确试验温度之设定、控制及显示。
4、定时器:LED数字型定时器,当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。
5、Jing准的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。
6、运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到好的蒸气品质。
7、一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长。
8、内经抛光处理美观不沾污。
![HAST非饱和老化试验箱](http://l.b2b168.com/2023/04/26/10/202304261035063920564.jpg)
试验箱使用条件:
温度:5℃~+28℃(内平均温度≤28℃)
相对湿度:≤85%RH
气压:86kPa~106kPa
供电条件 三相四线+保护地线,电压范围:AC(380±38)V
频率允许波动范围:(50±0.5)Hz
保护地线接地电阻小于4Ω
高压加速老化试验箱详细说明:
随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT和USPCT(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工会)所标准化。
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