高压加速老化试验箱实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。临界点LIMIT方式自动保护，异常原因与故障指示灯显示。型packing，箱内压力愈大时，packing会有反压会使其与箱体更紧密结合，与传统挤压式完全不同，可延长packing寿命。
试验箱控制系统：
1.微电脑饱和蒸气温度+时间LED显示器控制器,压力+指针式显示表.
3.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.
4.控制方式:微电脑控制.  
5.控制精度:(+/-)0.5℃.  
6.解析精度:0.1℃.  
7.压力精度:(+/-)0.15KG.  
8.循环方式：水蒸气自然对流循环方式  
9.温度感应器：（RTD）PT-100Ω(铂金电阻)  
10.加温电热器：绝缘耐压型温度电热器

试验箱性能：
1.温度范围:100℃~135℃可设定.
2.湿度范围:RH.(饱和蒸气湿度) 
3.压力范围:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue对压力;(安全压力容量3Kg/cm2/G=1个环大气压+2Kg/cm2)
4.时间范围:0~1000H
5.温度分布:(+/-)2.0℃%（100℃）
6.升温时间:RT~121℃约35分钟内
7.加压时间:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2约35分钟内

试验箱特点：
1、内外箱均采用304不锈钢板，圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计。
2、圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。
3、设计可靠，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。
4、自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，安全门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
5、型packing，箱内压力愈大时，packing会有反压会使其与箱体更紧密结合，与传统挤压式完全不同，可延长packing寿命。
6、实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。
7、临界点LIMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。

试验箱产品特色：
1、具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动。
2、试验过程自动运转至完成结束，使用简便。
3、温度控制：LED数字型温度控制器可作Jing确试验温度之设定、控制及显示。
4、定时器：LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。
5、Jing准的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。
6、运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到好的蒸气品质。
7、一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
8、内经抛光处理美观不沾污。
高压加速老化试验箱详细说明：
    随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT（HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC（国际电工会）所标准化。
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