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半导体材料冷热冲击试验箱产品用途：
是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经及高温及低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
半导体材料冷热冲击试验箱产品型号及技术参数：(W×H×D) (mm)
TS-49 内箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440
TS-80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440
TS-100 内箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440
TS-150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540
TS-250 内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640
TS-480 内箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150
温度范围：A:-40~+150 ℃ B:-50~+150℃ C:-60~+150℃
电 源：∮5W AC38O±10% 50/60HZ
高温室：预热温度范围，RT+20℃~200℃
升温时间：+20℃~+200℃约30min
低温室：预冷温度范围，RT~-80℃
降温时间：+20℃~-80℃约80min
实验室冲击：温度均匀度±2.0℃
半导体材料冷热冲击试验箱产品特性:
1．产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究。
2．设备分为高温室、低温室、测试室三部分，采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物完全静止，应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
3．采用触控式液晶（LCD）显示人机介面专用控制器，先进的计测装置，操作简单，学习容易，稳定可靠，中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。
4．具96个试验规范独立设定，冲击时间999小时59大分钟，循环周期1～999次可设定，可实现制冷机自动运转，大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。
5．箱体左侧具Ø50mm测试孔1个，可供外加电源负载配线测试部件。
半导体材料冷热冲击试验箱控制系统:
高温冲击3箱：Rt℃~ +150℃/5 MIN RT℃~ +150℃/5 MIN RT℃~ +150℃/5 MIN
低温冲击3箱：RT℃~ -65℃/5 MIN RT℃~ -65℃/5 MIN RT℃~ -65℃/5 MIN
高温冲击2箱：-40℃~ +150℃/5 MIN -55℃~ +150℃/5 MIN -65℃~ +150℃/5 MIN
低温冲击2箱：+150℃~ --65℃/5 MIN +150℃~ -65℃/5 MIN +150℃~ -65℃/5 MIN
预热时间：25MIN 30MIN 45MIN 40MIN 50MIN 40MIN 50MIN
预冷时间：60MIN 75MIN 80MIN 85MIN 85MIN 90MIN 100MIN
预热温度：+ 60℃ ~ + 200℃ + 60℃ ~ + 200℃ + 60℃ ~ + 200℃
预冷温度: - 10℃ ~ - 70℃ - 10℃ ~ - 70℃ - 10℃ ~ - 70℃
高温冲击: + 60℃ ~ + 150℃ + 60℃ ~ + 150℃ + 60℃ ~ + 150℃
低温冲击：-10℃ ~ - 65℃ -10℃ ~ - 65℃ -10℃ ~ - 65℃
温度分布均匀度：±2.00℃ 以内（UNDER ±2.00℃）
仿真负载（KG）：2.5 2.5 5 5 5 5 10.0
半导体材料冷热冲击试验箱性能参数系统:
1．采用进口微电脑大型液晶LCD（320 x 240 Dots）中英文显示控制系统。
2．高程序记忆容量，可设定储存 120 组程序，大循环设定 9999 Cycles，每段时间大设定 999 Hrs 59Mins。
3．具有RS-232通讯界面及连接软件，可于电脑荧幕上设计程序、收集测试资料与记录、呼叫程序执行、可实现远程控制。
4．可独立设定高温、低温、及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时，可选择二槽式或二槽式之功能，具备高低温试验箱的功能。
5．可在预约开机时间控制中自动提前预热、预冷待机，并可选择起始位置，由高温或低温开始循环或温度冲击，另具备设定循环次数扩自动除霜功能。
6．出风口与回风口传感器检知控制，风向栅门机构切换时间为10s内完成，冷热冲击温度恢复时间为5min钟内完成。
7．具有温度线怀直流信号输出到温度记录器，以了解测试条件之状态，进而提高检测信赖度。
8．运转中发行异常状况，荧幕上即刻自动显示故障原因及提供排除方法，并于发现输入电力不稳时，具有紧急停机装置。
9．冷冻系统采用二元式低温回路系统设计，采用欧美进口压缩机组，并使用环保冷媒。
半导体材料冷热冲击试验箱符合标准:
GJB367.2-87 405温度冲击试验。
SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
GB/T 2423.22-2002温度变化
QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
GB/T2423.1-2001低温试验方法
GB/T2423.2-2001高温试验方法
半导体材料冷热冲击试验箱售后服务:
1．售前服务：产品销售前为客户免费提供产品技术方案，并可根据客户要求提供现场讲解和技术咨询服务。
2．售后服务：产品销售后派出人员为客户免费提供产品使用培训，现场指导产品的使用和维护。
3．质量保证：该产品进行三包，质保期为验收之日起壹年，在保质期内产品发生非人为质量问题，艾思荔公司为客户提供免费维修。
4．维修服务：我公司对所用产品提供终生维修服务。如产品在质保期外出现故障，维修服务只收取元器件费用。
5．服务迅捷：我公司承诺客户服务热线在接到客户咨询或维修等信息后4小时内做出回应；维修服务在做出回应后8小时内安排人员到达现场。
