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半导体相关试验设备(冷热冲击试验箱)的测试标准介绍

半导体应用广泛,相关的试验设备有多种,下面简单介绍下常见半导体试验设备的标准如下:

1.温度循环(冷热冲击试验)参考标准:JESD22-A104

温度范围:-65~150

低温冲击:-40℃,-55℃,-65

高温冲击:65℃,85℃,125

温度冲击时间小于3min1min

温度保持时间30min60min

测试时间不能少于1000个循环


2.热压器/无偏压 HAST测试 参考标准:JESD22-A118

温度范围:100~143

湿度范围:70%RH~100%RH

压力范围:0.5kg~3.5kg

测试时间不能少于200小时,具体根据用户实际要求,有些需要达到500小时到1000小时等不同时间

3.其他测试标准:GB/T 2423.1-2001  试验A:低温试验方法,试验B:高温试验方法,GJB 150.3-1986 高温试验, 低温试验, GB 11158《高温试验箱技术条件》, IEC60068-2-14等测试标准,如需了解更多测试标准请来电咨询


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